| 发明名称 | 密码安全芯片侧信道安全程度量化评测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种密码安全芯片侧信道安全程度量化评测方法。该密码安全芯片侧信道安全程度量化评测方法包括：获取至少2个功耗与汉明权重的相关系数；计算归一化差值；计算密码安全芯片侧信道安全系数。该密码安全芯片侧信道安全程度量化评测方法可以评测密码安全芯片的密钥在侧信道分析攻击下的安全程度。 | ||
| 申请公布号 | CN101494537A | 申请公布日期 | 2009.07.29 |
| 申请号 | CN200910105663.9 | 申请日期 | 2009.02.27 |
| 申请人 | 深圳先进技术研究院 | 发明人 | 李慧云;于峰崎;袁海 |
| 分类号 | H04L9/06(2006.01)I;H04L29/06(2006.01)I | 主分类号 | H04L9/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 曾旻辉 |
| 主权项 | 1、一种密码安全芯片侧信道安全程度量化评测方法，包括：获取至少2个功耗与汉明权重的相关系数；计算归一化差值；计算密码安全芯片侧信道安全系数。 | ||
| 地址 | 518067广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园3A | ||