发明名称 | 减少测量点数的平面度评定方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种减少测量点数的平面度评定方法,具体步骤是:按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。本发明以最大熵方法为基础,利用有限的测量数据样本,确定被测平面误差的概率分布。 | ||
申请公布号 | CN101493321A | 申请公布日期 | 2009.07.29 |
申请号 | CN200910046279.6 | 申请日期 | 2009.02.18 |
申请人 | 上海理工大学 | 发明人 | 李郝林;王雪妮 |
分类号 | G01B21/30(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/30(2006.01)I |
代理机构 | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人 | 吴宝根 |
主权项 | 1.一种减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,具体步骤是:(1)按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;(2)根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;(3)根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;(4)利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;(5)根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。 | ||
地址 | 200093上海市杨浦区军工路516号 |