发明名称 减少测量点数的平面度评定方法
摘要 本发明涉及一种减少测量点数的平面度评定方法,具体步骤是:按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。本发明以最大熵方法为基础,利用有限的测量数据样本,确定被测平面误差的概率分布。
申请公布号 CN101493321A 申请公布日期 2009.07.29
申请号 CN200910046279.6 申请日期 2009.02.18
申请人 上海理工大学 发明人 李郝林;王雪妮
分类号 G01B21/30(2006.01)I 主分类号 G01B21/30(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 代理人 吴宝根
主权项 1.一种减少测量点数的平面度评定方法,其特征在于,具体步骤是:(1)按照现有的平面度测量方法,测量平面上若干个点位置上的平面误差值;(2)根据这些有限的测量点值,通过最大熵方法,估计被测平面误差的概率分布;(3)根据所估计的概率分布,在被测平面的其它位置上,产生测量点间平面误差的估计值,即对测量点进行插值;(4)利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法,由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值,评定平面度误差;(5)根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值,分别计算平面度误差,并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。
地址 200093上海市杨浦区军工路516号