发明名称 |
一种TFT LCD可编程综合性能电测仪及其检测方法 |
摘要 |
本发明是一种TFT LCD可编程综合性能电测仪。包括有控制模块(1)、D/A转换模块(2)、光电耦合开关模块(3)、电源模块(4)、键盘(5),其中控制模块(1)分别与D/A转换模块(2)及光电耦合开关模块(3)、键盘(5)连接,电源模块(4)分别供电至控制模块(1)、D/A转换模块(2)、光电耦合开关模块(3)、电源模块(4)、键盘(5)。本发明电测仪输出能驱动TFT LCD的七种变化的电压信号,包括GG、ODD、EVEN、DATA(R)、G、B等电压信号,产生黑、一级灰阶、二级灰阶、三级灰阶、白、红、绿、蓝等十个画面,可检测TFT LCD的黑屏、亮点和亮线等缺陷,针对不同厂家不同尺寸的TFT LCD,在硬件电路不变的条件下,只要修改软件即可检测;该电测仪成本低,显陷率高,并且检测速度快,提高LCM的成品率,降低企业成本。本发明TFT LCD可编程综合性能电测仪的检测方法检测方便,检测速度快,提高LCM的成品率,降低企业成本。 |
申请公布号 |
CN101493589A |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN200910037583.4 |
申请日期 |
2009.03.04 |
申请人 |
广东工业大学 |
发明人 |
唐惠玲;刘汉瑞;刘志军 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
广州粤高专利代理有限公司 |
代理人 |
林丽明 |
主权项 |
1、一种TFT LCD可编程综合性能电测仪,其特征在于包括有控制模块(1)、D/A转换模块(2)、光电耦合开关模块(3)、电源模块(4)、键盘(5),其中控制模块(1)分别与D/A转换模块(2)及光电耦合开关模块(3)、键盘(5)连接,电源模块(4)分别供电至控制模块(1)、D/A转换模块(2)、光电耦合开关模块(3)、电源模块(4)、键盘(5)。 |
地址 |
510006广东省广州市番禺区广州大学城外环西路100号 |