发明名称 |
在引线框上形成倒装芯片半导体封装的方法 |
摘要 |
将预定量的焊料(315)淀积在从半导体管芯(305)的管芯焊盘伸出的铜柱(310)的自由端上。焊料(315)涂敷有焊剂(320),半导体管芯(305)位于引线框(100)上,引线框(100)具有毗邻内引线部分(101)上的互连位置(335)的焊料沉积物(315)。当回流时,焊料沉积物(315)熔化,在焊剂(320)的协助下,在铜柱(310)的自由端和互连位置(335)之间形成焊料互连。由于在铜柱(310)的自由端上淀积预定量的焊料(315),因此熔化的焊料(315)不容易从互连位置(335)流走。因此,有利地允许焊料沉积物(315)的主要部分保持在互连位置(335)以形成焊料互连。 |
申请公布号 |
CN100521130C |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN02803800.2 |
申请日期 |
2002.08.20 |
申请人 |
先进封装技术私人有限公司 |
发明人 |
周辉星吉米;陈锦辉 |
分类号 |
H01L21/60(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/60(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张国良 |
主权项 |
1. 一种用于形成倒装芯片半导体封装的方法,该方法包括以下步骤:a)提供金属导体的构图层,该构图层具有用于在其上提供互连位置图形的第一表面;b)提供一个具有第一表面的半导体管芯,该第一表面上具有一个相应的焊盘图形,各个焊盘具有一个形成在其上的不可回流的凸块;c)在各个不可回流的凸块的自由端上布置预定量的可回流的导电材料;d)将半导体管芯放置在金属导体的构图层上,其中可回流的导电材料毗接着所述互连位置;以及e)回流所述可回流的导电材料,其中可回流的导电材料的主要部分基本上保持在互连位置处,以在不可回流的凸块和互连位置之间形成导电互连。 |
地址 |
新加坡马西岭工业区3路 |