发明名称 |
一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法 |
摘要 |
一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法,包括以下步骤:根据输入的SAR待测图像和参考图像数据,利用矩估计法估计二维Gamma分布的参数;根据Neyman-Pearson准则构造似然比统计量,在二维Gamma分布的基础上利用图像数据相关性进行杂波抑制,得到杂波抑制后的图像;对杂波抑制后的图像进行CFAR归一化,并设定全局阈值将图像二值化,得到初步的检测结果;对检测后得到的二值图像进行形态学处理、计数滤波及目标聚类,进一步消除孤立虚警点,得到最终的检测结果;本发明在低虚警率的基础上达到了较高的检测率,适合在各种杂波环境,特别是强杂波环境下检测人造目标。 |
申请公布号 |
CN101493520A |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN200910077021.2 |
申请日期 |
2009.01.16 |
申请人 |
北京航空航天大学;中国科学院电子学研究所 |
发明人 |
孙进平;洪文;胡睿;张耀天 |
分类号 |
G01S7/41(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 |
代理人 |
李新华;徐开翟 |
主权项 |
1、一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法,其特征在于:包括以下几个步骤:(1)根据输入的SAR待测图像和参考图像数据,利用矩估计法估计二维Gamma分布的参数;(2)根据Neyman-Pearson准则构造似然比统计量,在二维Gamma分布的基础上利用图像数据相关性进行杂波抑制,得到杂波抑制后的图像;(3)对杂波抑制后的图像进行CFAR归一化,并设定全局阈值将图像二值化,得到初步的检测结果;(4)对检测后得到的二值图像进行形态学处理、计数滤波及目标聚类,进一步消除孤立虚警点,得到最终的检测结果。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路37号 |