发明名称 |
一种自吸气真空镀膜方法 |
摘要 |
本发明公开了一种自吸气真空镀膜方法,系在正式沉积薄膜前,真空度尚达不到预设值时,预先沉积一层薄膜,然后停止沉积,继续抽真空。利用该薄膜自身的吸气作用使气压迅速降低至设定值后,再进行正式的薄膜沉积。该方法能极大地缩短抽真空的时间,减少残留气体中活性气体的成分,提高薄膜的纯度,适用于利用物理气相沉积法制备活性的金属或其合金薄膜。该方法不需要对原有的镀膜设备做任何改动,具有操作简单、普适性强等特点。 |
申请公布号 |
CN101492807A |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN200910058388.X |
申请日期 |
2009.02.20 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
杜晓松;靖红军;蒋亚东 |
分类号 |
C23C14/22(2006.01)I;C23C14/24(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;C23C14/46(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/22(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种自吸气真空镀膜方法,是在处于真空室内的基板上制备金属或者合金薄膜,其特征在于,包括以下步骤:(1)将真空室抽真空至预设值P1;(2)在基板遮蔽状态下,预先沉积一层薄膜;(3)停止薄膜沉积,继续抽真空至预设值P2,P2<P1;(4)使基板处于无遮蔽状态,正式在基板上沉积薄膜。 |
地址 |
610054四川省成都市建设北路二段四号 |