发明名称 |
制造半导体器件的方法以及用该方法制造的器件 |
摘要 |
一种制造半导体器件的方法,其包括形成沟槽(22),并且随后选择性地蚀刻埋层(14)以形成空腔。随后将绝缘体沉积在沟槽(22)的侧壁上,但并不覆盖空腔,随后空腔被用来在空腔中形成导电区域(28)。随后可以用绝缘体(40)填充沟槽(22),在这种情况下,导电区域(28)可以形成精确定位的掺杂区域,或者用导体来填充沟槽(22)来形成与导电区域(28)的接触。 |
申请公布号 |
CN101496177A |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN200780027977.0 |
申请日期 |
2007.07.19 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
简·桑斯基;韦伯·D·范诺尔特;罗布·范达伦 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L29/737(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/165(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈 源;张天舒 |
主权项 |
1.一种制造半导体器件的方法,包括:沉积第一半导体材料的多个层(12,50、54),使得至少一个不同的第二半导体材料的埋层(14,52)散布在多个层(12,50、54)之间;形成沟槽(22,60、62),所述沟槽至少通过多个层(12,50、54)的一些,包括至少通过一个埋层(14,52);选择性地对第二半导体材料的埋层(14,52)的一部分进行蚀刻,以在沟槽(22,60、62)穿过埋层(14)的地方形成空腔(24,64);在沟槽(22,60、62)的侧壁上沉积绝缘体(26,66),使得空腔(24,64)暴露出来;以及在空腔(24,64)处形成导电区域(28,65)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |