发明名称 检查装置及检查方法
摘要 本发明之检查装置1,在当DMD元件31之像素(微镜)皆设定在ON状态而使来自晶圆W的光皆导向2维摄影元件33时,系根据以2维摄影元件33所测得之傅利叶影像的亮度资讯,求出DMD元件31之像素中将来自晶圆W的光导向检测元件36a、36b、36c的像素,将求出之DMD元件31之像素设为OFF状态,使来自晶圆W之光的一部分经OFF状态之像素的反射,而导向检测元件36a、36b、36c。
申请公布号 TW200931009 申请公布日期 2009.07.16
申请号 TW097147235 申请日期 2008.12.05
申请人 尼康股份有限公司 发明人 吉川透
分类号 G01N21/956(2006.01);G01B9/02(2006.01) 主分类号 G01N21/956(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 日本