发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供了一种半导体装置的制造方法,该方法防止杂质进入SOI基板,激发包括从氢气、氦气、或卤素气体中选择的一种或多种气体的源气体以产生离子,并且将这些离子添加到接合基板,由此在接合基板中形成了形成了易碎层。然后,透过蚀刻、抛光等,除去接合基板的表面上和其附近的区域,即从比易碎层浅的位置到其表面这一区域。接下来,在将接合基板黏贴到底部基板之后,在易碎层处分离接合基板,由此,在底部基板上形成半导体膜。在底部基板上形成半导体膜之后,利用该半导体膜形成半导体元件。
申请公布号 TW200931503 申请公布日期 2009.07.16
申请号 TW097138415 申请日期 2008.10.06
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 大沼英人;饭洼阳一;山崎舜平
分类号 H01L21/265(2006.01);H01L21/84(2006.01);H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/265(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本