发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明之目的在于提供一种能够减少多值写入所必要的验证动作,缩短写入动作所需时间之非挥发性半导体记忆装置。该非挥发性半导体记忆装置中之写入控制电路WRC,系对各记忆胞进行检测是否处于特定之验证位准的验证,且对于以大于特定之验证位准之电压位准写入之记忆胞,将验证后进行之写入次数记忆于锁存电路LATA、LATB。其后,每次进行藉由写入电压之写入时,更新锁存电路LATA、LATB所记忆之写入次数。然后,于进行写入次数的藉由写入电压之写入后,藉由低于写入电压之中间电压进行写入。
申请公布号 TW200931418 申请公布日期 2009.07.16
申请号 TW097130711 申请日期 2008.08.12
申请人 东芝股份有限公司 发明人 小川干雄;矶部克明;竹山嘉和;本间充祥;柴田昇
分类号 G11C16/02(2006.01);G11C16/06(2006.01) 主分类号 G11C16/02(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本