发明名称 Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern einer Messoptik einer Koordinaten-Messmaschine
摘要
申请公布号 DE102007033345(B4) 申请公布日期 2009.07.16
申请号 DE200710033345 申请日期 2007.07.16
申请人 VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH 发明人 HEIDEN, MICHAEL;RINN, KLAUS
分类号 G01B11/03;G01B11/14 主分类号 G01B11/03
代理机构 代理人
主权项
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