发明名称 | 用于确定伪距测量的充分性的系统和/或方法 | ||
摘要 | 本文中所公开的主题涉及用于确定用以定位位置的测量的充分性的系统和方法。在一个示例中,尽管所要求保护的主题并不被如此限定,但是用于提高伪距测量的准确性的过程可响应于如此的伪距测量中的至少一些的量化评估的加权被终止。 | ||
申请公布号 | CN101484824A | 申请公布日期 | 2009.07.15 |
申请号 | CN200780017930.6 | 申请日期 | 2007.05.18 |
申请人 | 高通股份有限公司 | 发明人 | R·阿迈德;D·N·罗维奇 |
分类号 | G01S1/00(2006.01)I | 主分类号 | G01S1/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈 炜 |
主权项 | 1. 一种方法,包括:确定与在定位处到空间飞行器(SV)的多个伪距测量相关联的准确性的量化评估;以及响应于所述量化评估的至少一些根据与所述SV相关联的几何形态的加权选择性地终止用以提高所述多个伪距测量的所述准确性的过程。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |