发明名称 | 位置测量装置和位置测量方法 | ||
摘要 | 本发明提出一种位置测量装置,用以测量工件台的六自由度位置。该装置沿光路依次包括光源、分光镜组、光开关执行器系统、测量反射镜组和二维位置测量传感器。光源发射出入射光;分光镜组,将该入射光分为沿三个测量光路的光束;光开关执行器系统,电性连接至开关控制器,该开关控制器控制该光开关执行器系统依次开关三个测量光路;测量反射镜组;二维位置测量传感器,接收测量反射镜组反射的三个测量光路的光束。本发明提供的位置测量装置只包含一个二维位置测量传感器,可以显著降低成本。 | ||
申请公布号 | CN101482395A | 申请公布日期 | 2009.07.15 |
申请号 | CN200910046063.X | 申请日期 | 2009.02.10 |
申请人 | 上海微电子装备有限公司 | 发明人 | 单世宝;杨志勇;齐芊枫 |
分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人 | 屈 蘅;李时云 |
主权项 | 1. 一种位置测量装置,用以测量工件台的六自由度位置,其特征是,沿光路依次包括:光源,发射出入射光;分光镜组,将上述入射光分为沿三个测量光路的光束;光开关执行器系统,电性连接至开关控制器,上述开关控制器控制上述光开关执行器系统依次开关三个测量光路;测量反射镜组;以及二维位置测量传感器,接收测量反射镜组反射的三个测量光路的光束。 | ||
地址 | 201203上海市张江高科技园区张东路1525号 |