发明名称 HALIDE ANIONS FOR METAL REMOVAL RATE CONTROL
摘要 <p>The inventive chemical-mechanical polishing composition comprises a liquid carrier, hydrogen peroxide, benzotriazole, and a halogen anion. The inventive method comprises chemically-mechanically polishing a substrate with the polishing composition.</p>
申请公布号 WO2009085164(A2) 申请公布日期 2009.07.09
申请号 WO2008US13783 申请日期 2008.12.17
申请人 CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION 发明人 LI, SHOUTIAN
分类号 C09K3/14 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人
主权项
地址