发明名称 |
涂层内部残余应力的测定方法 |
摘要 |
本发明公开了一种涂层内部残余应力的测定方法,包括步骤:确定温差、待测涂层和基体的各项参数;计算弯矩轴线到涂层与基体界面的距离δ、曲率K,以及涂层各层平面力引起的平面方向的应变分量ε<sub>i</sub><sup>0</sup>;根据公式ε<sub>i</sub>=ε<sub>i</sub><sup>0</sup>+K(z+δ)计算出涂层各层的应变;根据公式σ<sub>i</sub>=E<sub>i</sub>′ε<sub>i</sub>计算出涂层各层内部的残余应力σ<sub>i</sub>。本发明不仅可精确测定一般多层涂层内部的残余应力值,还可精确测定功能梯度涂层各层内部的残余应力值,为涂层制造前的材料优化设计提供有效的理论依据。 |
申请公布号 |
CN101477030A |
申请公布日期 |
2009.07.08 |
申请号 |
CN200810055923.1 |
申请日期 |
2008.01.02 |
申请人 |
中国人民解放军装甲兵工程学院 |
发明人 |
徐滨士;张显程;王海斗;吴毅雄 |
分类号 |
G01N19/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N19/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京北新智诚知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张卫华 |
主权项 |
1、一种涂层内部残余应力的测定方法,适用于涂层结构处于平面应变状态,其特征在于,它包括如下步骤:1)确定温差ΔT,待测涂层的层数n,基体的厚度ts、有效弹性模量、热膨胀系数αs,和涂层各层的厚度ti、有效弹性模量热膨胀系数αi,下标i表示多层涂层的第i层涂层,下标s表示基体;2)根据上面得到的参数,计算弯矩轴线到涂层与基体界面的距离δ、曲率K,以及涂层各层平面力引起的平面方向的应变分量下标i表示多层涂层的第i层涂层;3)根据界面协调条件和涂层结构力与弯矩的平衡条件,将得到的距离δ、曲率K、应变分量代入公式ε1=εi0+K(z+δ),从而计算出涂层各层的应变εi,其中,0≤z≤tc,z为沿厚度方向的坐标,tc为整个涂层厚度;4)根据公式计算出涂层各层内部的残余应力σi。 |
地址 |
100072北京市丰台区杜家坎21号装甲兵工程学院院士办 |