发明名称 |
制造半导体器件的方法 |
摘要 |
本发明公开一种制造半导体器件的方法,所述方法包括形成旋涂碳膜,所述旋涂碳膜有利于低温烘烤工序,并可防止在形成位线时竖直晶体管崩塌,从而提供更简单的制造方法并提高制造良率。 |
申请公布号 |
CN101477966A |
申请公布日期 |
2009.07.08 |
申请号 |
CN200810130769.X |
申请日期 |
2008.07.17 |
申请人 |
海力士半导体有限公司 |
发明人 |
潘槿道 |
分类号 |
H01L21/822(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/822(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 |
代理人 |
顾红霞;何胜勇 |
主权项 |
1. 一种制造半导体器件的方法,所述方法包括:在半导体基板中形成竖直晶体管;形成填充所述竖直晶体管之间的间隙的旋涂碳膜;在所述半导体基板上形成硬掩模图案,所述硬掩模图案也位于所述竖直晶体管及所述旋涂碳膜上方;利用所述硬掩模图案作为掩模来蚀刻所述旋涂碳膜,以使位于所述旋涂碳膜底部的半导体基板露出;移除所述硬掩模图案;蚀刻露出的半导体基板,以形成位线沟槽;以及执行植入工序,以在所述半导体基板的一部分中形成位线,在所述半导体基板的所述一部分中,所述位线沟槽与所述竖直晶体管相接触。 |
地址 |
韩国京畿道 |