发明名称 | 一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法及装置 | ||
摘要 | 一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法,为了克服现有测量方法测量荧光寿命的困难,以测量发射波形相对于激发波形的相位延迟计算得到荧光寿命的相移法为基础,采用具有一定调制度和频率可调谐的激发光源激励荧光样品。由计算机分别对激发波形和发射波形进行傅利叶级数展开,只需提取基频分量间的相位延迟,就可以根据相位延迟和荧光寿命的关系计算得到准确荧光寿命值,从而避开了激发波形中含有的高次谐波对实验结果的影响,提高了测量荧光寿命的准确度。解决了目前相移法必须依靠高简谐度激发波形等问题。提供一种由周期性任意波形激发光源就可以测量荧光寿命的方法,提高准确度外还降低了对激发光源驱动电路的要求。 | ||
申请公布号 | CN100510716C | 申请公布日期 | 2009.07.08 |
申请号 | CN200510131854.4 | 申请日期 | 2005.12.20 |
申请人 | 北京交通大学 | 发明人 | 冯颖;黄世华;梁春军 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 北京市商泰律师事务所 | 代理人 | 毛燕生 |
主权项 | 1. 一种由周期性任意激发光源测量荧光寿命的方法,其特征在于包括以下步骤:1)用单色仪对激发光信号和荧光信号进行分光,得到预定波长范围内特定波长下的激发光信号和荧光信号;2)用光电倍增管将该激发光信号和荧光信号分别转换成电信号;3)用数字存储示波器记录下该激发光电信号和荧光电信号,得到该特定波长下的光波形;4)数字示波器记录的数据最后导入计算机进行数据处理;5)由计算机分别对激发波形和发射波形进行傅利叶级数展开,获取各阶分量;6)取出一阶分量,得到激发波形基频分量和发射波形基频分量间的相位延迟,根据相位延迟和荧光寿命的关系得到荧光寿命值。 | ||
地址 | 100044北京市西直门外上园村3号 |