发明名称 |
修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法,其包括以下步骤:在该半导体的电压输入引脚上加测试工作电压V<sub>CC</sub>,信号输入引脚输入测试控制信号;测量信号输出引脚实际输出电流I′<sub>out</sub>;测量该外接电阻引脚到地的电压V′<sub>ref</sub>及该接地引脚到地的电压V<sub>GND</sub>;用所测电压V′<sub>ref</sub>或其平均值和V<sub>GND</sub>对实际输出电流I′<sub>out</sub>进行修正,从而得到测试修正后电流I<sub>修正</sub>的值。因此,在不需测出接触电阻的阻值的情况下,可有效解决因接触电阻而导致的信号输出引脚输出测试电流偏离实际值的问题,提高测试的准确性。 |
申请公布号 |
CN100511622C |
申请公布日期 |
2009.07.08 |
申请号 |
CN200710063961.7 |
申请日期 |
2007.02.15 |
申请人 |
北京巨数数字技术开发有限公司 |
发明人 |
邵寅亮 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种修正半导体引脚测试电压来校正输出电流的方法,该半导体包括电压输入引脚、信号输入引脚、外接电阻引脚、信号输出引脚和接地引脚,该外接电阻引脚通过参考电阻R<sub>ext</sub>接地,该方法包括以下步骤:在该半导体的电压输入引脚上加测试工作电压V<sub>CC</sub>,信号输入引脚输入测试控制信号;测量信号输出引脚实际输出电流I′<sub>out</sub>;其特征在于:该方法还包括测量该外接电阻引脚到地的电压V′<sub>ref</sub>及该接地引脚到地的电压V<sub>GND</sub>;用所测电压V′<sub>ref</sub>和V<sub>GND</sub>对实际输出电流I′<sub>out</sub>进行修正,修正公式为:<img file="C200710063961C00021.GIF" wi="558" he="132" />根据该修正公式得到测试修正后电流I<sub>修正</sub>的值。 |
地址 |
100085北京市海淀区上地东路1号盈创动力E402B |