发明名称 电光装置、其检查方法及电子装置
摘要 本发明的课题是一种电光装置,备有保持电光物质的基板;以及在上述基板中与上述电光物质相向的区域以外的区域上形成的有迂回布线部的多条布线。上述各布线的迂回布线部有第一部分、以及其宽度比该第一部分窄的第二部分。在有这样的结构的液晶装置的检查工序中,使将规定的驱动信号供给各布线用的多个检查用端子接触该各布线的第二部分。即使在伸出区域中形成的布线之间的间隔狭窄的情况下,也能进行准确的检查。
申请公布号 CN100511364C 申请公布日期 2009.07.08
申请号 CN01137595.7 申请日期 2001.10.30
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 上原秀树
分类号 G09G3/30(2006.01)I;G02F1/133(2006.01)I 主分类号 G09G3/30(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 杨 凯;叶恺东
主权项 1. 一种电光装置,其特征在于:备有保持电光物质的基板;在所述基板上设置的电极;具有在所述基板的所述电光物质被配置的区域以外的区域上形成的迂回布线部的多条布线;以及对在所述基板的所述电光物质被配置的区域以外的区域上安装的所述多条布线供给输出信号的驱动器IC所述多条布线的迂回布线部有第一部分、以及在所述电极和所述驱动IC之间设置的第二部分:所述第二部分宽度比所述第一部分窄;所述第二部分是在使用所述电光物质将象素点亮进行点亮检查时用以接触检查用端子的部分,其中,所述电极备有多条第一电极;以及位于与所述第一电极相反的一侧而将所述电光物质夹在中间,同时沿着与所述第一电极交叉的方向延伸的多条第二电极,所述布线是与所述第一电极或第二电极中电极数多的电极导通的布线。
地址 日本东京都