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发明名称 FABRICATION METHOD OF A TEST PATTERN IN FLASH MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR100906052(B1) 申请公布日期 2009.07.03
申请号 KR20070097882 申请日期 2007.09.28
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;G11C29/00;H01L27/115 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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