| 发明名称 | 可控硅导通角的数字化测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种可控硅导通角的数字化测量方法，包括以下步骤：①将可控硅导通角的模拟信号进行取样、滤波和放大；②检测所取信号的波形宽度；③用高频基准脉冲做CP信号计数，量化被测的波形宽度；④用数字显示仪显示测量结果。由此，通过检测模拟信号导通角的宽度，结合高频基准脉冲进行逻辑运算，最终以非常直观的方式数字化显示出导通角的数值，测量精度达到±0.1°CA，测量的稳定性及可靠性大为提高，为可控硅整流元件在各个领域的广泛应用奠定了基础。 | ||
| 申请公布号 | CN101470144A | 申请公布日期 | 2009.07.01 |
| 申请号 | CN200710302593.7 | 申请日期 | 2007.12.29 |
| 申请人 | 苏州市相城区富顿厚膜电路制造厂 | 发明人 | 庄瑞云 |
| 分类号 | G01R25/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R25/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人 | 陈忠辉 |
| 主权项 | 1、可控硅导通角的数字化测量方法，其特征在于包括以下步骤：①将可控硅导通角的模拟信号进行取样、滤波和放大；②检测步骤①所取信号的波形宽度；③用高频基准脉冲做CP信号计数，量化被测的波形宽度；④用数字显示仪显示测量结果。 | ||
| 地址 | 215131江苏省苏州市相城区元和镇富顿路100号 | ||