发明名称 可调整的测试型样结果潜伏时间
摘要 一种数位测试仪器及一种测试方法提供可调整的结果潜伏时间。一数位测试仪器包括:一型样控制器,设置以至少部分地回应于一通过/未通过结果而产生一测试型样序列;一型样记忆体,设置以提供该所产生之测试型样序列至一受测单元;一型样结果收集单元,设置以接收来自该受测单元之至少一结果值且针对至少一个所提供之测试型样判定一通过/未通过结果;及一同步单元,设置以在一测试开始后在一预设数目之型样循环期间提供一无结果指示至该型样控制器,型样循环之该预设数目系基于该测试仪器之一结果潜伏时间,且在该预设数目之型样循环后提供通过/未通过结果至该型样控制器。
申请公布号 TW200928376 申请公布日期 2009.07.01
申请号 TW097139125 申请日期 2008.10.13
申请人 泰瑞达公司 发明人 麦可F 麦可迪克;威廉T 巴瑞兹;史帝芬K 安;大卫A 米莉
分类号 G01R11/17(2006.01) 主分类号 G01R11/17(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 美国
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