发明名称 |
互补金属氧化物半导体图像传感器的数字图像处理方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种互补金属氧化物半导体图像传感器的数字图像处理方法及装置,以解决现有CMOS图像传感器中数字图像处理方法所引起的图像对比度不高的问题。该方法根据预设的曝光时间,将曝光时间设置为多个曝光时间档,在根据设置的曝光时间对像素列阵中预设部分的像素点进行曝光时,每到达一个曝光时间档时,记录该预设部分的像素点的曝光信息;然后对该预设部分的像素点的曝光信息进行数字信息处理DSP。根据本发明提出的方案,可以CMOS图像传感器的动态响应范围,从而提高所得图像的对比度和质量。 |
申请公布号 |
CN100508563C |
申请公布日期 |
2009.07.01 |
申请号 |
CN200710303992.5 |
申请日期 |
2007.12.24 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
谢律 |
分类号 |
H04N5/335(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/335(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
1、一种互补金属氧化物半导体图像传感器的数字图像处理方法,其特征在于,包括:根据预设的曝光时间,将曝光时间设置为多个曝光时间档;根据设置的曝光时间对像素列阵中预设部分的像素点进行曝光,当曝光时间没有达到最后一个曝光时间档时,每到达一个曝光时间档时,比较该预设部分的像素点内没有被记录的像素点的像素电压是否大于亮度阈值的模拟电压,当像素点的像素电压大于亮度阈值的模拟电压时,将该像素点的像素电压做模拟/数字转换得到该像素点的当前亮度值,并记录当亮度值和当前的曝光时间;当曝光时间达到最后一个曝光时间档时,记录该预设部分的像素点中所有没有被记录的像素点的当前亮度值和当前的曝光时间;对该预设部分的像素点的当前亮度值和当前的曝光时间进行数字信息处理DSP,得到该预设部分的像素点在固定的曝光时间下的亮度值。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |