发明名称 可测试精密电阻之万用测试装置
摘要 一种可测试精密电阻之万用测试装置,其包含有:一针盘组,系一端与测试设备连接,其针盘组上布设有矩阵排列之测试点,每一测试点上系预先定义有独立编号。一测试盘,其上布设有复数导接点,每一导接点上系预先定义有独立编号,用以与针盘组上相同编号之测试点连接。一转接盒,其底座设有与测试盘导接点对应之之转接部,其一端系设有测试部,该转接点与测试部依测试料号之不同而电性导接。如上所述,本发明系利用测试盘之导接点与万用测试机之测试点相连接,因该导接点及测试点已预先定义相对应且独立之编号,而可确保被测试点之正确性,在透过依不同料号所制作之转接盒与测试盘相组合,使被测试点之电性讯号可确实藉由测试部连接至四线式电阻量测机上,来进行精密电阻的量测,使万用测试机不仅可测试一般电路,亦可同时用于量测精密电阻,俾可大大减少制作专用测试治具成本之目的者。
申请公布号 TW200928381 申请公布日期 2009.07.01
申请号 TW096150953 申请日期 2007.12.28
申请人 吴美惠 发明人 吴美惠
分类号 G01R27/02(2006.01) 主分类号 G01R27/02(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 高雄市旗津区慈爱里安住巷94号