应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复方法及其系统

摘要

本发明系提供一种应用于反及闸快闪记忆体之内建式自我修复方法及其系统，该系统包含一内建式自我测试电路、一内建式备用记忆体分析电路、一记忆体模组和一储存元件。该记忆体模组包含待修复之一主记忆体和用以置换损坏记忆单元之备用记忆体。该内建式自我测试电路系用以测试该主记忆体，而该内建式多余分析电路系分配该备用记忆体予该主记忆体。