| 发明名称 | 用于分析在一个变形物体上的辅助材料层的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于在不同的测量参数方面分析在变形工艺、尤其是轧制工艺之前和/或之后在一个变形物件(40)、尤其是金属带表面上的辅助材料(50)层的方法。在此按照本发明规定，借助于光谱分析实现辅助材料(50)分析。本发明还涉及一个用于实施按照本发明方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101473214A | 申请公布日期 | 2009.07.01 |
| 申请号 | CN200780022620.3 | 申请日期 | 2007.06.08 |
| 申请人 | SMS迪马格股份公司 | 发明人 | A·科尔劳什;H·帕韦尔斯基;H·-P·里克特 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;B21B45/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/35(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李永波 |
| 主权项 | 1. 用于以不同的测量参数为基础分析在变形工艺、尤其是轧制工艺之前和/或之后在一个变形物件(40)、尤其是金属带表面上的辅助材料(50)层的方法，其特征在于，在线地借助于光谱分析实现辅助材料(50)分析。 | ||
| 地址 | 德国杜塞尔多夫 | ||