发明名称 磁共振成像系统的测试装置
摘要 本发明提出一种磁共振成像系统的测试装置,包括基板和设置在所述基板上的探头,所述基板上设置圆弧形基板导轨,所述基板导轨的圆心处设置枢轴,一旋转滑杆的一端可旋转地枢接在所述枢轴上,另一端与所述基板导轨相配合并适于在所述基板导轨上滑动,探头设置在所述旋转滑杆上并适于在所述旋转滑杆上滑动,所述基板设置在基座上,所述基座在所述基板的两侧垂直于所述基板所在的平面的方向上分别设置基座导轨,所述基板的两侧与所述基座导轨相配合并适于在所述基座导轨上滑动。借助所述测试装置中对应于三维直角坐标系各坐标轴并可以方便、直观读数的各结构,以及这些结构间的相互配合,实现对探头的精确定位和方便调节。
申请公布号 CN101470181A 申请公布日期 2009.07.01
申请号 CN200710301664.1 申请日期 2007.12.29
申请人 西门子(中国)有限公司 发明人 李锋华;徐华根;徐志坚
分类号 G01R35/00(2006.01)I;G01R33/24(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1. 一种磁共振成像系统的测试装置(100),包括基板(10)和设置在所述基板(10)上的探头(20),其特征在于:所述基板(10)上设置圆弧形基板导轨(12),所述基板导轨(12)的圆心处设置枢轴(16),一旋转滑杆(14)的一端可旋转地枢接在所述枢轴(16)上,另一端与所述基板导轨(12)相配合并适于在所述基板导轨(12)上滑动,探头(20)设置在所述旋转滑杆(14)上并适于在所述旋转滑杆(14)上滑动;以及所述基板(10)设置在基座(30)上,所述基座(30)在所述基板(10)的两侧垂直于所述基板(10)所在的平面的方向上分别设置基座导轨(32),所述基板(10)的两侧与所述基座导轨(32)相配合并适于在所述基座导轨(32)上滑动。
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