同时测量光学旋转角和相位延迟之装置与方法

摘要

本发明系一种同时测量光学旋转角和相位延迟之装置与方法，该装置包括一入射光源、偏光片、一λ/2波片、光检测器、及一史托克偏光仪。该方法系使一入射光源依序经过偏光片、待测物、λ/2波片，于光侦测器上接受其光讯号，再将光讯号经过史托克偏光仪测量出四个史托克参数S#sB!0#eB!、S#sB!1#eB!、S#sB!2#eB!及S#sB!3#eB!，运算得光学旋转角和相位延迟。