发明名称 |
动态控制辐射探测器的整形时间的方法和系统 |
摘要 |
提供一种计数和标记由辐射探测器接收的辐射能量的方法和系统(50)。将该方法和系统(50)设计成动态控制光子计数探测器(54)的采样窗口或整形时间特性以适应探测器(54)探测的通量的变化,从而保持最佳的探测器性能并且在高通量情况下防止饱和。 |
申请公布号 |
CN100502781C |
申请公布日期 |
2009.06.24 |
申请号 |
CN200510099881.8 |
申请日期 |
2005.09.09 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
D·M·霍夫曼;J·S·阿伦森 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I;G01T1/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
张雪梅;梁 永 |
主权项 |
1. 光子计数射线照相系统包括:射线照相能量探测器,其被配置成探测穿过待成像对象并且具有给定通量率的射线照相能量并输出表示被探测的射线照相能量的电信号;光子计数通道,其被连接以接收所述电信号并在采样窗口中采样所述电信号并提供光子计数输出;以及控制器,其被可操作地连接到光子计数通道并被配置成至少随给定通量率的变化自动调整采样窗口。 |
地址 |
美国纽约州 |