发明名称 |
介质隔离集成电路硅片及其制备方法 |
摘要 |
本发明主要涉及介质隔离硅片的制备方法。一种N型/P型介质隔离集成电路硅片,其主要特点在于有N型/P型衬底硅片(1),其上设有夹心氧化层(2),还有N型/P型硅单晶层(6),在硅单晶层(6)内设有隐埋层(3);其硅单晶层(6)由二氧化硅(5)、多晶硅(4)和夹心氧化层(2)分隔为互相绝缘的隔离方块。本发明还公开了N型/P型介质隔离集成电路硅片的制备方法,包括有隐埋层制备,贴片,研磨、抛光和刻槽,二氧化硅、多晶硅生长,抛光。由于在制备中大大缩短了高温时间,晶体结构更完整,工艺控制更准确,可制作高性能及特殊要求的电路。适当提高单晶片电阻率,可以做出高(电源)电压电路,并有一定功率输出。 |
申请公布号 |
CN101465357A |
申请公布日期 |
2009.06.24 |
申请号 |
CN200810232036.7 |
申请日期 |
2008.10.13 |
申请人 |
天水华天微电子股份有限公司 |
发明人 |
周鸣新 |
分类号 |
H01L27/12(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;H01L21/76(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/12(2006.01)I |
代理机构 |
兰州振华专利代理有限责任公司 |
代理人 |
张 真 |
主权项 |
1. 一种N型/P型介质隔离集成电路硅片,其特征在于有N型/P型衬底硅片(1),其上设有夹心氧化层(2),还有N型/P型硅单晶层(6),在硅单晶层(6)内设有隐埋层(3);其硅单晶层(6)由二氧化硅(5)、多晶硅(4)和夹心氧化层(2)分隔为互相绝缘的隔离方块。 |
地址 |
741000甘肃省天水市秦州区双桥路14号 |