| 发明名称 | 对无限远校正显微镜进行自动聚焦的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明旨在提供一种对无限远校正显微镜进行自动聚焦的方法和装置。光束被导向并且之后被会聚向感兴趣的样本，并且由所反射的光形成至少一个图像。然后查看所述图像，并且从所述图像获取校准测量值。然后这些校准测量值被用于确定对所述显微镜进行自动聚焦所使用的聚焦测量值。 | ||
| 申请公布号 | CN101467087A | 申请公布日期 | 2009.06.24 |
| 申请号 | CN200780021491.6 | 申请日期 | 2007.06.11 |
| 申请人 | 维谷设备有限公司 | 发明人 | 亚当·韦斯;亚历山大·奥博特那;安德鲁·拉辛斯基 |
| 分类号 | G02B7/28(2006.01)I;G02B7/36(2006.01)I;G02B21/00(2006.01)I | 主分类号 | G02B7/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人 | 康 泉;宋志强 |
| 主权项 | 1、一种将无限远校正显微镜自动聚焦于样本上的方法，包括：创建所述样本的图像；处理所述图像以获取校准测量值；从所述校准测量值计算距离测量值；从所述校准测量值计算方向测量值；和向电机发送所述距离测量值和所述方向测量值以根据所述距离测量值和所述方向测量值来移动所述显微镜。 | ||
| 地址 | 加拿大安大略省 | ||