发明名称 |
无线数据卡辐射杂散频点测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中,工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试,对数据卡制造厂家而言其过程耗时长,效率低,费用高。为解决上述问题,本发明包括以下步骤:(1)将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中,启动待测数据卡;(2)用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接;(3)用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头,所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置;(4)所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。本发明可用普通屏蔽室替代微波暗室,节约了费用,缩短了产品开发周期。 |
申请公布号 |
CN100504408C |
申请公布日期 |
2009.06.24 |
申请号 |
CN200610149918.8 |
申请日期 |
2006.10.17 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
李成恩;王卫中;张亮;刘卫刚;李广峰;郭绪斌 |
分类号 |
G01R29/08(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一、将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中,启动待测数据卡;步骤二、用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接;步骤三、用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头,所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置;步骤四、所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦6层法律部 |