发明名称 确定至少两个冲击的位置的方法
摘要 本发明涉及一种方法,用于使用一个或多个传感器S<sub>i</sub>确定表面上的至少两个冲击F<sub>1</sub>和F<sub>2</sub>的位置,其中i=1到n,n是传感器的数目,所述冲击F<sub>1</sub>和F<sub>2</sub>产生一个或多个传感器所感测到的信号,其中每一个传感器提供感测信号s<sub>i</sub>(t),i=1到n,n是传感器的数目。为了能够确定同时的不同幅度的冲击,该方法包括步骤:识别一个冲击的位置x,并且基于感测信号s<sub>i</sub>(t)中的每一个与预定参考信号r<sub>ij</sub>(t)的比较,特别是相关,确定针对每一个传感器的修改的感测信号s<sub>i</sub>’(t),在所述修改的感测信号s<sub>i</sub>’(t)中,由于所识别的冲击所产生的贡献被减小,其中预定参考信号r<sub>ij</sub>(t)与位置j处的参考冲击R<sub>j</sub>相对应。本发明还涉及基于感测信号对的方法以及实现发明方法的设备。
申请公布号 CN101464756A 申请公布日期 2009.06.24
申请号 CN200810186088.5 申请日期 2008.12.22
申请人 传感器公司 发明人 雷米·杜海勒;奥利维尔·申温;罗斯·克里因格
分类号 G06F3/043(2006.01)I 主分类号 G06F3/043(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王波波
主权项 1、一种使用一个或多个传感器Si确定表面上的至少两个冲击F1和F2的位置的方法,其中i=1到n,n是传感器的数目,所述冲击F1和F2产生一个或多个传感器所感测到的信号,其中每一个传感器提供感测信号si(t),i=1到n,n是传感器的数目;所述方法包括以下步骤:a)识别一个冲击的位置x,具体是最强冲击的位置,以及b)基于感测信号si(t)中的每一个与预定参考信号rij(t)的比较,具体为相关,确定针对每一个传感器的修改的感测信号si’(t),在所述修改的感测信号si’(t)中,由于所识别的冲击所产生的贡献被减小,以及其中所述预定参考信号rij(t)与位置j处的参考冲击Rj相对应。
地址 法国布洛涅-比郎库尔