发明名称 一种制备氮化镓单晶衬底的方法
摘要 本发明提供一种制备GaN单晶衬底的方法,属于光电材料和器件领域。该方法包括:在蓝宝石等异质衬底上利用MOCVD或MBE等技术生长高质量GaN薄膜作为后续生长的模板,厚度在10μm之内;在GaN模板上制备一柔性的弱键和层;采用常规的HVPE方法在GaN模板上快速生长GaN单晶厚膜;由于减少了GaN和衬底之间的应力效应,可以获得低位错密度的GaN外延层,防止厚膜产生裂纹,获得高质量GaN材料,当GaN单晶厚膜厚度为0.1.毫米以上时,在降温过程中使得GaN单晶厚膜能够从GaN模板上自动分离,获得GaN单晶厚膜。本发明利用一种弱连接的方式,提高晶体质量,使GaN单晶厚膜和异质衬底之间自动分离,直接获得GaN单晶衬底。
申请公布号 CN100505165C 申请公布日期 2009.06.24
申请号 CN200610144316.3 申请日期 2006.12.01
申请人 东莞市中镓半导体科技有限公司 发明人 张国义;康香宁;吴洁君;赵璐冰;童玉珍;杨志坚
分类号 H01L21/20(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 贾晓玲
主权项 1、一种制备GaN单晶衬底的方法,其步骤如下:1)在蓝宝石等异质衬底上利用MOCVD或MBE等技术生长高质量GaN薄膜作为后续生长的模板,厚度在10μm之内;2)在GaN模板上制备一柔性的弱键合层;3)采用常规的HVPE方法在GaN模板上快速生长GaN单晶厚膜;4)当GaN单晶厚膜厚度为0.1毫米以上,生长结束后,进行降温,使GaN单晶厚膜从GaN模板的弱键合层上自动分离,获得GaN单晶衬底。
地址 523500广东省东莞市企石镇科技工业园