发明名称 | 一种掺磷吸杂方法 | ||
摘要 | 一种掺磷吸杂方法,涉及一种在半导体器件制造过程中通过掺磷实现吸杂目的的方法,属于半导体器件制造技术领域。已知技术有双重吸杂技术和多重吸杂技术,其存在的共同问题是工艺复杂,从而导致半导体器件的制造成本高。本发明是这样实现的,硅片经过硼扩散工步形成基区,在硅片正面做掺杂磷预扩,再在硅片背面做吸杂磷预扩,吸杂掺磷的浓度高于掺杂掺磷的浓度,最后做磷主扩。其效果在于在保证吸杂效果的前提下,简化了工艺。可应用于半导体器件的制造领域。 | ||
申请公布号 | CN100505181C | 申请公布日期 | 2009.06.24 |
申请号 | CN200710056293.5 | 申请日期 | 2007.11.09 |
申请人 | 吉林华微电子股份有限公司 | 发明人 | 刘广海;王修中;黄光波;穆新宇 |
分类号 | H01L21/322(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/322(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、一种掺磷吸杂方法,在硅片背面扩散一层高浓度的磷作为吸杂源,其特征在于,硅片经过硼扩散工步形成基区,在硅片正面做掺杂磷预扩,再在硅片背面做吸杂磷预扩,吸杂掺磷的浓度高于掺杂掺磷的浓度,最后做磷主扩。 | ||
地址 | 132013吉林省吉林市深圳街99号 |