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经营范围
发明名称
WAFER BURN IN TEST CONTROL CITCUIT
摘要
申请公布号
KR100904465(B1)
申请公布日期
2009.06.24
申请号
KR20070113663
申请日期
2007.11.08
申请人
发明人
分类号
G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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