测试装置、相位调整方法及存储器控制器

摘要

本发明的测试装置包括：时序比较器，以选通信号的时序获取从被测试存储器所输出的输出信号的输出值；逻辑比较器，将时序比较器所获取的输出值与预先生成的期待值进行比较，并输出比较结果；以及相位调整控制电路，根据逻辑比较器所输出的比较结果，而调整选通信号的时序。而且，本发明的测试装置还包括：第1可变延迟电路，其使选通信号延迟以提供给时序比较器，而相位调整控制电路根据逻辑比较器所输出的比较结果，设定第1可变延迟电路的延迟量。

主权项

1. 一种测试装置，对被测试存储器进行测试，其特征在于包括：时序比较器，以选通信号的时序获取由所述被测试存储器所输出的输出信号的输出值；逻辑比较器，将上述时序比较器所获取的上述输出值与预先生成的期待值加以比较，并输出比较结果；相位调整控制电路，根据上述逻辑比较器所输出的上述比较结果，而调整上述选通信号的时序；第1可变延迟电路，使上述选通信号延迟而提供给上述时序比较器；无效计数器，对无效数据的数量进行计数，上述无效数据是由上述逻辑比较器作为上述比较结果而输出，且表示上述输出值与上述期待值不一致；以及判定电路，将上述无效计数器所计数作为上述比较结果的上述无效数据的数量与预先设定的判定值进行比较，并输出判定结果，并且，上述相位调整控制电路根据上述判定电路所输出的上述判定结果，通过二分查找法从上位比特开始依次决定以二进制数据所表示的上述第1可变延迟电路的延迟量。