发明名称 电子元件测试分选机 THE TIMING SYSTEM WITH AUDIO &
摘要
申请公布号 TWM359374 申请公布日期 2009.06.21
申请号 TW098201173 申请日期 2009.01.21
申请人 万润科技股份有限公司 ALL RING TECH CO., LTD. 高雄县路竹乡路科十路1号 发明人 林芳旭
分类号 B03B5/48 (2006.01) 主分类号 B03B5/48 (2006.01)
代理机构 代理人 陈金铃 台南市安平区建平五街122号
主权项 1.一种电子元件测试分选机,至少包括二个以上能承载电子元件之转盘,且二转盘间以一连结通道做为电子元件由其一转盘输送至其二转盘之移载装置,而在二转盘运送电子元件的流路上预设有供检测电子元件之电子特性的检测装置及将电子元件吹离转盘之喷出机构,另在藉由喷出机构以将在转盘上之电子元件喷出的路径处设置储料盒。2.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中该转盘系以间歇性转动的方式承载并运送电子元件至检测位置或喷出位置或移载位置。3.如申请专利范围第2项所述电子元件测试分选机,其中该转盘在其周缘处以等角间距设置数多槽孔,且该转盘转动的角度即为相邻之槽孔间的距离。4.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中该转盘上的每一槽孔连接一槽道,以透过该槽道与喷出机构之空气输出端衔接。5.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中该移载装置包括一连结通道以及一移载动力单元,该连结通道系用以连结二转盘之槽孔,该移载动力单元则为提供电子元件由其一转盘之槽孔经该连结通道进入另一转盘之槽孔中的动力来源。6.如申请专利范围第5项所述电子元件测试分选机,其中该移载动力单元为一吹出单元,系设置在移载位置的始端。7.如申请专利范围第5项所述电子元件测试分选机,其中该移载动力单元为一吸引单元,系设置在移载位置的终端。8.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中在对应该喷出装置之喷出位置处设置一导引斜面。9.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中于相对转盘运载电子元件的流路上设置盖板。10.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中在转盘数量为3个以上时,该转盘采串接方式以延长运载流路。11.如申请专利范围第1项所述电子元件测试分选机,其中在转盘数量为3个以上时,该转盘采环状方式衔接以延长运载流路。图式简单说明:第一图:本创作之电子元件测试分选机之立体外观图第二图:本创作之电子元件测试分选机于将护盖自转盘上取下之立体外观图第三图:本创作之电子元件测试分选机于将护盖自转盘上取下之俯视示意图第四图:本创作之电子元件测试分选机于将护盖自转盘上取下之局部放大俯视图第五图:本创作之电子元件测试分选机相邻之二转盘间的构造示意图第六图:本创作之电子元件测试分选机的分选架构示意图第七图:本创作之电子元件测试分选机之转盘采串连方式衔接示意图第八图:本创作之电子元件测试分选机之转盘采环状方式衔接示意图
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