| 发明名称 | 基板测试电路 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其中：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。通过本发明，由于引入了多个信号接入端，添加具有相同阻值的测试支路，使得在不改变工艺流程和设备硬件结构的情况下，使显示屏各处的测试信号输入电阻和阻抗大小达到基本一致，较好的平均了各信号线的输入电阻和阻抗，从而保证了待测像素区内的测试信号没有区域性的明显衰减，克服了面板尺寸的限制，以实现对大型号的面板的测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101452123A | 申请公布日期 | 2009.06.10 |
| 申请号 | CN200710178946.7 | 申请日期 | 2007.12.07 |
| 申请人 | 北京京东方光电科技有限公司 | 发明人 | 陈宇鹏;田震寰;权基瑛 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘 芳 |
| 主权项 | 1、一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其特征在于：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。 | ||
| 地址 | 100176北京市经济技术开发区西环中路8号 | ||