发明名称 |
一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统 |
摘要 |
本发明是一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统。所述显微测量系统用渥拉斯顿棱镜作为光起偏器,把一束HeNe激光变成线偏振光,然后使线偏振光通过与其成45度夹角的光弹调制器,根据光学原理,偏振光变成50kHz调制的左右旋圆偏振光,圆偏振光照射样品,样品中产生自旋极化的电子;在反向电场的驱动下,铁磁金属向半导体中注入自旋极化电子,但是由于半导体在圆偏振光的照射下会有50%的自旋极化电子,从而会对注入的自旋极化电子产生磁阻效应;在正向电场的驱动下,半导体中光照产生的自旋极化电子向铁磁这边驱动,受铁磁中极化电子的影响,会滤除与其自旋方向相反的注入电子。 |
申请公布号 |
CN101452043A |
申请公布日期 |
2009.06.10 |
申请号 |
CN200710178300.9 |
申请日期 |
2007.11.29 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
肖文波;郑厚植;李桂荣;刘剑;谭平恒;扬威;张飞 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01R31/265(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1. 一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统,其特征在于,包括:一HeNe激光器,用来激发样品(101);一渥拉斯顿棱镜,把前面的激光器发出来的光调制成线偏振光(102);一光弹调制器,把线偏振光调制成50kHz左旋和右旋圆偏振光,并提供锁相放大器(104)触发信号(103);一锁相放大器,用来测量样品偏振相关电子输运电压(104);一锁相放大器,用来测量样品光伏电压(105);一数字电压表,测量样品直流偏压(106);一恒流源,用来给样品施加偏置电流(107);一显微物镜,用来聚焦激光,使其照射到样品上(108);一斩波器,调制入射光强,并提供锁相放大器(105)触发信号(109);一白光光源,用来照射样品,以便于摄像机和显示器(112)能清楚显示激光照射样品的位置(110);一两个半反半透镜组,用来把激光和白光汇合后照射样品,且把反射光成像到摄像机和显示器(111);一摄像机和显示器,用来显示和记录激光照射样品位置(112);一可变磁场样品座,安放样品的地方,且施加不同磁场于样品上(113)。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |