| 发明名称 | 超高分子量聚乙烯分子量分布曲线的测定方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种超高分子量聚乙烯分子量分布曲线的测定方法，所述测定方法包括如下步骤：(a)提供超高分子量聚乙烯的溶液；(b)分级降低所述步骤(a)的溶液的温度，使得溶液中的超高分子量聚乙烯按分子量从高到低逐级析出，析出部分进行分离得到各个分子量级分；(c)分别测定各分子量级分的分子量以及质量，得到积分分布曲线或微分分布曲线。本发明的方法能够准确地测定超高分子量聚乙烯的分子量分布曲线。 | ||
| 申请公布号 | CN101451988A | 申请公布日期 | 2009.06.10 |
| 申请号 | CN200710171788.2 | 申请日期 | 2007.12.05 |
| 申请人 | 上海化工研究院天地科技发展有限公司;上海化工研究院;上海联乐化工科技有限公司 | 发明人 | 孟赟;徐静安;吴向阳;张炜;张玉梅;洪尉;赵春保 |
| 分类号 | G01N33/44(2006.01)I;G06F17/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N33/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 朱黎明 |
| 主权项 | 1. 一种超高分子量聚乙烯分子量分布曲线的测定方法，所述测定方法包括如下步骤：(a)提供超高分子量聚乙烯的溶液；(b)分级降低所述步骤(a)的溶液的温度，使得溶液中的超高分子量聚乙烯按分子量从高到低逐级析出，析出部分进行分离得到各个分子量级分；(c)分别测定各分子量级分的分子量以及质量，得到积分分布曲线或微分分布曲线。 | ||
| 地址 | 200062上海市金山区金山大道4480号 | ||