发明名称 相变化存储装置及其制造方法
摘要 一种相变化存储装置,包括:一第一导电电极,设置于一第一介电层内;一第二介电层,设置于该第一介电层的一侧;一相变化材料层,埋设于该第二介电层内,该相变化材料层与该第一导电电极电连接;一空室,设置于该第二介电层内,介于该第二介电层与该相变化材料层侧壁之间,隔离该相变化材料层的一侧壁与其相邻的该第二介电层;以及一第二导电电极,堆叠于该相变化材料层的一侧,并与该相变化材料层电连接。本发明亦提供了一种相变化存储装置的制造方法。
申请公布号 CN101452992A 申请公布日期 2009.06.10
申请号 CN200710196123.7 申请日期 2007.11.28
申请人 财团法人工业技术研究院;力晶半导体股份有限公司;南亚科技股份有限公司;茂德科技股份有限公司;华邦电子股份有限公司 发明人 涂丽淑
分类号 H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 彭久云
主权项 1. 一种相变化存储装置,包括:第一导电电极,设置于第一介电层内;第二介电层,设置于该第一介电层的一侧;相变化材料层,埋设于该第二介电层内,该相变化材料层与该第一导电电极电连接;空室,设置于该第二介电层内,介于该第二介电层与该相变化材料层侧壁之间,隔离该相变化材料层的侧壁与其相邻的该第二介电层;以及第二导电电极,堆叠于该相变化材料层的一侧,并与该相变化材料层电连接。
地址 中国台湾新竹县