| 发明名称 | 用于组织性质的深度分辨的测量的设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于组织(114)性质的深度分辨的测量的设备(20)。所述设备包括：照明构件(112)，适于用光来照明组织(114)；聚集器构件(115)，用于聚集没有被所述组织(114)吸收的光；确定构件(108)，用于根据所聚集的光来确定不同深度的所述组织(114)的性质；以及外壳(121)，用于推进到中空的对象中，所述外壳(121)中设置有所述照明构件和所述聚集器构件的至少一部分。所述照明构件(112)和所述聚集器构件(115)适于深度分辨地聚集光，并且所述确定构件(108)适于根据深度分辨地聚集的光来确定所述组织(114)的深度分辨的性质。 | ||
| 申请公布号 | CN101453942A | 申请公布日期 | 2009.06.10 |
| 申请号 | CN200780019521.X | 申请日期 | 2007.05.30 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | N·乌尊巴加卡瓦;R·E·蒂尔温德;J·卡斯特;G·W·吕卡森 |
| 分类号 | A61B5/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 蹇 炜 |
| 主权项 | 1、一种用于组织性质的深度分辨的测量的设备，所述设备包括：a)照明构件(112；212；312；612)，其适于用光来照明所述组织(114；214；314；614)；b)聚集器构件(115；215；315；615)，用于聚集没有被所述组织(114；214；314；614)吸收的光；c)确定构件(108)，用于根据所聚集的光来确定不同深度的所述组织(114；214；314；614)的性质；d)外壳(121)，用于推进到中空的对象(3)中，所述外壳(121)中设置有所述照明构件(112；212；312；612)和所述聚集器构件(115；215；315；615)的至少一部分，其中所述照明构件(112；212；312；612)和所述聚集器构件(115；215；315；615)适于深度分辨地聚集光，并且其中所述确定构件(108)适于根据深度分辨地聚集的光来确定所述组织(114；214；314；614)的深度分辨的性质。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||