发明名称 | 空间环境模拟用远紫外源辐照度的间接测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了测量空间环境模拟用的远紫外源辐照度的方法,包括以下步骤:先确定被测辐照源所产生的光斑内的最强方向上的光谱辐亮度;测量光斑内辐照度最强点处的微电流并根据所述光谱辐亮度计算出该点处单一波长下的光谱辐照度;通过积分求出总波长范围内的光谱辐照度作为参照辐照度;测量光斑内其它位置的微电流并根据电流和辐照度的正比关系得出其它位置的辐照度。本发明的测试方法具有操作简便,测量设备简单,测量成本低廉的优点。同时该方法可以被广泛应用于空间环境模拟用远紫外源的辐照度测量中。 | ||
申请公布号 | CN101451884A | 申请公布日期 | 2009.06.10 |
申请号 | CN200710195520.2 | 申请日期 | 2007.12.04 |
申请人 | 北京卫星环境工程研究所 | 发明人 | 郑慧奇;冯伟泉;丁义刚;刘宇明;赵雪;曹大朋 |
分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、一种测量空间环境模拟用的远紫外源辐照度的方法,包括以下步骤:先确定被测辐照源所产生的光斑内的最强方向上的光谱辐亮度;测量光斑内辐照度最强点处的微电流并根据所述光谱辐亮度计算出该点处单一波长下的光谱辐照度;通过积分求出总波长范围内的光谱辐照度作为参照辐照度;测量光斑内其它位置的微电流并根据电流和辐照度的正比关系得出其它位置的辐照度。 | ||
地址 | 100094北京市海淀区友谊路104号 |