发明名称 包括用于不同操作模式的不同芯片接触的芯片
摘要 提出了在芯片(20)中用于数据载体(1)的非接触操作模式芯片触点(24、25)和接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33),其中,非接触操作模式芯片触点(24、25)和接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33)的至少一些每一个均具有接触头(38、39、40、41、42、43、44、45、46、47),其中非接触操作模式芯片触点(24、25)的接触头(38、39)的头高度(H)比接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33)的接触头(40至47)的头高度(h)大。
申请公布号 CN100498830C 申请公布日期 2009.06.10
申请号 CN200580037091.5 申请日期 2005.08.24
申请人 NXP股份有限公司 发明人 艾里西·皮斯勒;杰西姆·斯考伯
分类号 G06K19/077(2006.01)I 主分类号 G06K19/077(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 陈瑞丰
主权项 1. 一种芯片(20),所述芯片被配置和设计用于不同的芯片卡(1)中,所述芯片卡(1)的第一实施例仅适用于非接触操作模式,其第二实施例仅适用于接触操作模式,其第三实施例适用于非接触操作模式和接触操作模式两者,并且所述芯片(20)具有半导体体(21)、在半导体体(21)中形成的集成电路(22)、设计用于保护集成电路(22)的钝化层(23)、非接触操作模式芯片触点(24、25)、以及接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33),所述非接触操作模式芯片触点和接触操作模式芯片触点(24、25、26、27、28、29、30、31、32、33)的每一个均具有位于钝化层(23)下面的接触层(34、35、36、37),其中非接触操作模式芯片触点(24、25)和至少一些接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33)的每一个均具有接触头(38、39、40、41、42、43、44、45、46、47),所述接触头(38、39、40、41、42、43、44、45、46、47)与接触层(34、35、36、37)相连、并且从钝化层(23)中的孔中凸出,并且每一个接触头(38、39、40、41、42、43、44、45、46、47)具有与接触头(38、39、40、41、42、43、44、45、46、47)相邻的钝化层(23)的区域相关的给定的头高度(H),非接触操作模式芯片触点(24、25)的接触头(38、39)的头高度(H)比接触操作模式芯片触点(26、27、28、29、30、31、32、33)的接触头(40、41、42、43、44、45、46、47)的头高度(h)大。
地址 荷兰艾恩德霍芬