发明名称 |
一种可靠性测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种可靠性测试装置。所述可靠性测试装置包括:振动发生装置,与承载体固定连接,用于发生振动,并驱动所述承载体发生振动;承载体,用于承载电子产品,在所述振动发生装置的驱动下,持续冲击所述电子产品,并使之发生跳动。本实用新型可以随机的从各个方向筛选电子产品的结构强度,利于尽早发现电子产品的功能缺陷。 |
申请公布号 |
CN201255685Y |
申请公布日期 |
2009.06.10 |
申请号 |
CN200820134216.7 |
申请日期 |
2008.09.12 |
申请人 |
深圳华为通信技术有限公司 |
发明人 |
刘春林;寇大贺 |
分类号 |
G01M7/00(2006.01)I;G01M7/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M7/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
逯长明 |
主权项 |
1、一种可靠性测试装置,其特征在于,包括:振动发生装置,与承载体固定连接,用于发生振动,并驱动所述承载体发生振动;承载体,用于承载电子产品,在所述振动发生装置的驱动下,持续冲击所述电子产品,并使之发生跳动。 |
地址 |
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为基地B区2号楼 |