发明名称 |
半导体器件 |
摘要 |
本发明提供一种半导体器件及其制造方法,在该半导体器件中,衬底设置有第一布线层(111)、第一布线层上的层间绝缘膜(132)、形成于层间绝缘膜中的孔(112A)、覆盖孔的内表面和层间绝缘膜的上表面的第一金属层(112)、嵌入并填充孔的第二金属层(113)、第一金属层和第二金属层上的电介质绝缘膜(135)、以及电介质绝缘膜上的第二布线层(114-116),其中层间绝缘膜上的第一金属层形成为平坦结构,其中,第一金属层构成下电极的至少一部分,第二布线层面向下电极的区域构成上电极,并由下电极、电介质绝缘膜和上电极(P1)构成电容器(160)。 |
申请公布号 |
CN100495707C |
申请公布日期 |
2009.06.03 |
申请号 |
CN200610019886.X |
申请日期 |
2006.03.01 |
申请人 |
富士通微电子株式会社 |
发明人 |
渡边健一 |
分类号 |
H01L27/04(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/04(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王玉双;高龙鑫 |
主权项 |
1. 一种半导体器件,包括:第一布线层,形成于半导体衬底上;层间绝缘膜,形成于该第一布线层上;孔,形成于该层间绝缘膜中并在该层间绝缘膜的上表面具有开口;第一金属层,覆盖该孔的内表面和该层间绝缘膜的上表面,其中该层间绝缘膜上的第一金属层形成为平坦结构;第二金属层,嵌入并填充覆盖有该第一金属层的孔;电介质绝缘膜,形成于该第一金属层和该第二金属层的上方;以及第二布线层,形成于该电介质绝缘膜的上方,其中,嵌入具有下电极和上电极的电容器,该下电极包括覆盖孔的内壁表面的第一金属层,其中该第二布线层的面向该下电极的区域构成该上电极。 |
地址 |
日本东京都 |