发明名称 | 试样固定器 | ||
摘要 | 1.本产品是用于对半导体片等的试样(样品)进行电测试时,使其保持上述试样的固定器。2.各部名称参考图中的1和2为固定部,3和4为安装孔。 | ||
申请公布号 | CN300935047D | 申请公布日期 | 2009.06.03 |
申请号 | CN200830006182.9 | 申请日期 | 2008.02.28 |
申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 铃木浩之;笹岛正弘 |
分类号 | 08-08 | 主分类号 | 08-08 |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张素玲 |
主权项 | |||
地址 | 日本东京都 |