发明名称 试样固定器
摘要 1.本产品是用于对半导体片等的试样(样品)进行电测试时,使其保持上述试样的固定器。2.各部名称参考图中的1和2为固定部,3和4为安装孔。
申请公布号 CN300935047D 申请公布日期 2009.06.03
申请号 CN200830006182.9 申请日期 2008.02.28
申请人 株式会社日立高新技术 发明人 铃木浩之;笹岛正弘
分类号 08-08 主分类号 08-08
代理机构 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人 张素玲
主权项
地址 日本东京都