发明名称 |
集成电路的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种集成电路(IC)的制造方法,可在口袋掺杂与延伸掺杂完成后,于栅极侧壁形成超低温间隙壁;也可在超晕圈形成后,进行高斜角的延伸掺杂;或可在延伸掺杂后,进行固相外延,再进行低温制程,或者也可在进行口袋掺杂后,先进行热回火,然后再进行上述的延伸掺杂步骤;或者可先进行高能量低剂量的倾斜源极/漏极掺杂,再进行高剂量的源极/漏极掺杂。 |
申请公布号 |
CN100495663C |
申请公布日期 |
2009.06.03 |
申请号 |
CN200510125166.7 |
申请日期 |
2005.11.21 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
王志豪;王大维;胡正明 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王玉双;潘培坤 |
主权项 |
1. 一种集成电路的制造方法,至少包括如下步骤:提供一基板,其中该基板上至少已形成一栅极结构,且该栅极结构至少包括依序堆迭的一介电层以及一导电层;对该基板进行一口袋掺杂步骤,以将多个第一离子斜向注入该基材中;于该口袋掺杂步骤后,在该栅极结构的侧壁上形成一偏移间隙壁;以及于形成该偏移间隙壁的步骤后,对该基板进行一延伸掺杂步骤。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号 |