X射线奥氏体测量标定试样的制备方法

摘要

一种用于材料分析测试技术领域的X射线奥氏体测量标定试样的制备方法，本发明具体步骤如下：(1)粉末颗粒尺寸筛选：对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选；(2)混粉：将奥氏体粉末和铁素体粉末放入无水酒精中，按照奥氏体体积分数，利用机械混合方式，将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合；(3)热压成型：在高温及真空状态下，将混合粉末热压成型为块体材料；(4)加工处理：利用上述块体材料加工出标定试样，在真空炉中进行退火处理。本发明所制备的X射线奥氏体测量标定试样，用于标定X射线衍射系统。标定试样表面美观，不易生锈，携带方便，奥氏体含量长期保持稳定，可以提高测量结果的可靠性。

主权项

1、一种X射线奥氏体测量标定试样的制备方法，其特征在于，具体步骤如下：(1)粉末颗粒尺寸筛选：对奥氏体粉末和铁素体粉末的颗粒进行筛选，使获得的粉末颗粒尺寸在2μm～5μm范围内；(2)混粉：按照奥氏体体积分数，利用机械方式，在无水酒精溶液中，将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合；(3)热压成型：在真空中对混合粉末进行加热，将奥氏体粉末与铁素体粉末热压成型，获得块体材料；(4)加工处理：利用上述块体材料加工成X射线奥氏体测量标定试样，在真空炉中进行充分加热退火处理。